介紹幾種露點(diǎn)分析儀的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)

    介紹幾種露點(diǎn)分析儀的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)

　　露點(diǎn)分析儀從原理上主要主流的可分為冷鏡式、氧化鋁電容式、薄膜電容式、高分子電容式等等。其中氧化鋁電容式露點(diǎn)，露點(diǎn)分析儀一般用于低濕范圍的測量，冷鏡式、薄膜電容式露點(diǎn)分析儀則不僅能用于低濕的測量，還能用于中高濕，即相對濕度的測量。

　　上述各種原理的儀器各有其優(yōu)缺點(diǎn)。其中冷鏡式露點(diǎn)儀是最準(zhǔn)確、最可靠、最基本的測量方法，被廣泛地用于標(biāo)準(zhǔn)傳遞，但其缺點(diǎn)是價(jià)格比較昂貴，并需要有經(jīng)驗(yàn)的人操作及保養(yǎng)。

1.鏡面式露點(diǎn)儀 不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會(huì)結(jié)露。采用光電檢測技術(shù)，檢測出露層并測量結(jié)露時(shí)的溫度，直接顯示露點(diǎn)。鏡面制冷的方法有：半導(dǎo)體制冷、液氮制冷和高壓空氣制冷。鏡面式露點(diǎn)儀采用的是直接測量方法，在保證檢露準(zhǔn)確、鏡面制冷高效率和精密測量結(jié)露溫度前提下，該種露點(diǎn)儀可作為標(biāo)準(zhǔn)露點(diǎn)儀使用。目前精度達(dá)到±0.1℃，目前生產(chǎn)冷鏡式露點(diǎn)儀的公司，基本都是采用這一原理。

2.薄膜電容式露點(diǎn)儀 采用薄膜電容材料，一般精度可達(dá)到±3℃以內(nèi)，一般測量-55℃以上的露點(diǎn)。

3.高分子電容式露點(diǎn)儀 采用高分子電容材料，一般精度可達(dá)到±3℃以內(nèi)，一般測量-60℃以上的露點(diǎn)。

　　隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，人們將光電技術(shù)，新材料技術(shù)，紅外技術(shù)，微波技術(shù)，微電子技術(shù)，光纖技術(shù)，聲學(xué)技術(shù)甚至納米技術(shù)應(yīng)用于氣體中水分的測量。 南京鈦格金儀器儀表有限公司的技術(shù)人員根據(jù)測量原理，對氧化鋁，高分子，陶瓷等不同傳感器進(jìn)行了比較分析和研究，采用了不同的技術(shù)方法和方法�！∥覀円呀�(jīng)從許多直接和間接測量氣體中微量水分的儀器和設(shè)備，解決了在不同領(lǐng)域和環(huán)境中測量微量水分的問題。